• HEST-600高溫四探針測量系統

    HEST-600高溫四探針測量系統,该系统可以测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻,该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的。

    查看詳細介紹
  • 金属导电材料高溫四探針測試儀HEST-600

    金属导电材料高溫四探針測試儀HEST-600,该系统可以测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻,该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的。

    查看詳細介紹
  • 高分子导电材料高溫四探針測試儀HEST-600

    高分子导电材料高溫四探針測試儀HEST-600,该系统可以测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻,该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的。

    查看詳細介紹
  • 複合導電材料高溫四探針測試機HEST-600

    複合導電材料高溫四探針測試機HEST-600,该系统可以测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻,该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的。

    查看詳細介紹
  • 觸摸屏高溫四探針測試機HEST-600

    觸摸屏高溫四探針測試機HEST-600,该系统可以测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻,该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的。

    查看詳細介紹
  • 操控性好高溫四探針測量系統HEST-600

    操控性好高溫四探針測量系統HEST-600,该系统可以测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻,该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的。

    查看詳細介紹
  • 兼容性好高溫四探針測試裝置HEST-600

    兼容性好高溫四探針測試裝置HEST-600,该系统可以测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻,该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的。

    查看詳細介紹
  • 抗幹擾處理高溫四探針測試裝置HEST-600

    抗幹擾處理高溫四探針測試裝置HEST-600,该系统可以测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻,该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的。

    查看詳細介紹
  • 精度高高溫四探針測試裝置HEST-600

    精度高高溫四探針測試裝置HEST-600,该系统可以测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻,该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的。

    查看詳細介紹
  • 速度平穩高溫四探針測試裝置HEST-600

    速度平穩高溫四探針測試裝置HEST-600,该系统可以测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻,该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的。

    查看詳細介紹
共 10 條記錄,當前 1 / 1 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉到第頁