• HCTZ-2S读数稳定手持式四探針測試儀

    读数稳定手持式四探針測試儀,可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻,适用于半导体和太阳能材料测试的要求,也可对分立电阻进行测量,USB接口可为用户提供远程控制及测试数据的统计和分析。由于采用了电池和外接电源两种供电方式,既能适应固定场合对元器件进行检测,又可随身携带以满足测试人员的现场测试要求。

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  • HCTZ-2S自动修正手持式四探針測試儀

    自动修正手持式四探針測試儀,可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻,适用于半导体和太阳能材料测试的要求,也可对分立电阻进行测量,USB接口可为用户提供远程控制及测试数据的统计和分析。由于采用了电池和外接电源两种供电方式,既能适应固定场合对元器件进行检测,又可随身携带以满足测试人员的现场测试要求。

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  • HCTZ-2S液晶显示手持式四探針測試儀

    液晶显示手持式四探針測試儀,可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻,适用于半导体和太阳能材料测试的要求,也可对分立电阻进行测量,USB接口可为用户提供远程控制及测试数据的统计和分析。由于采用了电池和外接电源两种供电方式,既能适应固定场合对元器件进行检测,又可随身携带以满足测试人员的现场测试要求。

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  • HC2661型手持式四探針測試儀

    HC2661型手持式四探針測試儀,可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻,适用于半导体和太阳能材料测试的要求,也可对分立电阻进行测量,USB接口可为用户提供远程控制及测试数据的统计和分析。由于采用了电池和外接电源两种供电方式,既能适应固定场合对元器件进行检测,又可随身携带以满足测试人员的现场测试要求。

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