• HCDH-200漏電起痕試驗儀-触摸屏控制系统

    漏電起痕試驗儀-触摸屏控制系统产品简介 耐漏電起痕試驗儀是根据GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固体绝缘材料耐电痕化指数和相比电痕化指数的测定方法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等标准规定的模拟试验项目。

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  • HCDH-200工程塑料漏電起痕試驗儀

    工程塑料漏電起痕試驗儀产品简介 耐漏電起痕試驗儀是根据GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固体绝缘材料耐电痕化指数和相比电痕化指数的测定方法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等标准规定的模拟试验项目。

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  • HCDH-200华测优质漏電起痕試驗儀

    华测优质漏電起痕試驗儀产品简介 耐漏電起痕試驗儀是根据GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固体绝缘材料耐电痕化指数和相比电痕化指数的测定方法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等标准规定的模拟试验项目。

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  • HCDH-200照明设备-低压漏電起痕試驗儀

    照明设备-低压漏電起痕試驗儀产品简介 耐漏電起痕試驗儀是根据GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固体绝缘材料耐电痕化指数和相比电痕化指数的测定方法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等标准规定的模拟试验项目。

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  • HCDH-200绝缘材料漏電起痕試驗儀

    绝缘材料漏電起痕試驗儀-HCDH-200是在固体绝缘材料表面上,在规定尺寸(2mm×5mm)的铂电极之间,施加某一电压并定时(30s)定高度(35mm)滴下规定液滴体积的污染液体(0.1%NH4CL),用以评价固体绝缘材料表面在电场和污染介质联合作用下的耐受能力,测定其相比电痕化指数(CT1)和耐电痕化指数(PT1)。

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  • HCDH-300华测低压漏電起痕試驗儀

    华测低压漏電起痕試驗儀(耐电痕化指数仪)是在固体绝缘材料表面上,在规定尺寸的铂电极之间,施加某一电压并定时定高度滴下规定液滴体积的污染液,用以评价固体绝缘材料在电场和污染液介质联合作用下的耐受能力,测定其相比电痕化指数和耐电痕指数。

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  • HCDH-300北京华测低压漏電起痕試驗儀

    北京华测低压漏電起痕試驗儀(耐电痕化指数仪)是在固体绝缘材料表面上,在规定尺寸的铂电极之间,施加某一电压并定时定高度滴下规定液滴体积的污染液,用以评价固体绝缘材料在电场和污染液介质联合作用下的耐受能力,测定其相比电痕化指数和耐电痕指数。

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  • HCDH-300低压漏電起痕試驗儀

    低压漏電起痕試驗儀(耐电痕化指数仪)是在固体绝缘材料表面上,在规定尺寸的铂电极之间,施加某一电压并定时定高度滴下规定液滴体积的污染液,用以评价固体绝缘材料在电场和污染液介质联合作用下的耐受能力,测定其相比电痕化指数和耐电痕指数。

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  • HCLD-III电痕化漏電起痕試驗儀

    电痕化漏電起痕試驗儀是根据GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固体绝缘材料耐电痕化指数和相比电痕化指数的测定方法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等标准规定的模拟试验项目。

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  • HCLD-III电工电子漏電起痕試驗儀

    电工电子漏電起痕試驗儀是根据GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固体绝缘材料耐电痕化指数和相比电痕化指数的测定方法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等标准规定的模拟试验项目。

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  • HCLD-III电气绝缘材料漏電起痕試驗儀

    电气绝缘材料漏電起痕試驗儀是根据GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固体绝缘材料耐电痕化指数和相比电痕化指数的测定方法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等标准规定的模拟试验项目。

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  • HCLD-III控制精密漏電起痕試驗儀

    控制精密漏電起痕試驗儀是根据GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固体绝缘材料耐电痕化指数和相比电痕化指数的测定方法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等标准规定的模拟试验项目。

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